测试座/适配座的寿命

集成电路老化测试座该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用: 产品型号及规格； IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J（K）宽跨度、IC-40J主要技术指标； 间距；2.54mm 环境温度；-55℃—+155℃ 绝缘电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金） 插拔寿命；高低温状态下插拔寿命；2000-3000次。

TO封装集成电路老化测试插座该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。 产品型号及规格； TO-4、6、8、10、12 主要技术指标； 环境温度；-20℃—+255℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次。

IC集成电路老化测试座（DIP封装） 详细介绍:

集成电路老化测试座该系列夹具适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯产品型号及规格； IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J 、IC-18J（K）宽跨度、IC-20J、IC-24J、IC-24Z窄脚、IC-28J、IC-28J（K）宽跨度、IC-40J 主要技术指标； 间距；2.54mm环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍2um金插拔寿命；高低温状态下插拔寿命；2000-3000次。

IC老化测试座：

该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用: