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IC器件HTOL试验系统
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详情说明
  • 产品名称：IC器件HTOL试验系统
  • 标准型号：QSI8000
  • 试验温区：1个;
    试验温度:50℃～150℃;
    试验插槽：16个;
    Patten：每个Slot独立执行;
    试验频率：40MHz(VIH：3～5.5V）；
    DPS：1A*40 Ch pre Slot，10A*4Ch pre Slot；
    Vout：0～6V;
    I/O Channel：256;
    VIH：1.6～5.5V;
    Vector Memory：64M per Pin;
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